服務(wù)內(nèi)容

廣電計(jì)量可為裝備、電工電子產(chǎn)品、儀器儀表、結(jié)構(gòu)件以及組件等開(kāi)展低氣壓試驗(yàn) 氣候環(huán)境試驗(yàn)（包括低氣壓工作/貯存、快速減壓、爆炸減壓）。

服務(wù)范圍

低氣壓試驗(yàn) 氣候環(huán)境試驗(yàn)包括：各類(lèi)裝備、電工電子產(chǎn)品、儀器儀表、以及航空航天產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)件、組件和整機(jī)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

● GJB 150.2-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低氣壓（高度）試驗(yàn)

● GJB 150.2A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)

● MIL-STD-810H Environmental Engineering Considerations and Laboratory Tests Method 500.6 Low Pressure (Altitude)

● GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105 低氣壓試驗(yàn)

● MIL-STD-202H Department of Defense Test Method Standard Electronic and Electrical Component Parts Method 105 Barometric Pressure (Reduced)

● GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1001 低氣壓（高空工作）

● MIL-STD-883-1 CHANGE 1 Test Method Standard Environmental Test Methods For Microcircuits Part 1: Test Methods 1001 Barometric pressure，reduced(altitude operation)

● GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1001

● GJB 3947A-2009 電子測(cè)試設(shè)備通用規(guī)范 4.6.5.2

● GJB 367A-2001通信設(shè)備通用規(guī)范 4.7.30

● GJB 1621.7A-2006 技術(shù)偵察裝備通用技術(shù)要求 第7部分：環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗(yàn)方法  5.4

● GJB 322A-1998 計(jì)算機(jī)通用規(guī)范 4.7.10.7

● GJB 2711-1996 運(yùn)輸包裝件試驗(yàn)方法 方法15

● IEC 60068-2-13:2021 Test M: low air pressure

● GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓

● GB/T 4857.13-2005 包裝 運(yùn)輸包裝件 第13部分：低氣壓試驗(yàn)方法

● GB/T 5095.6-1997電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第6部分：氣候試驗(yàn)和錫焊試驗(yàn) 11 試驗(yàn)11k：低氣壓

● ISO 2873-2002 包裝 滿裝的運(yùn)輸包裝和單元貨物 低氣壓試驗(yàn)

● ASTM D4169-16 運(yùn)輸包裝件性能測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)目

低氣壓試驗(yàn)，快速減壓試驗(yàn)，爆炸減壓試驗(yàn)

相關(guān)資質(zhì)

CNAS、CMA、DILAC

測(cè)試周期

1~2天

服務(wù)背景

在自然環(huán)境中，氣壓隨海拔高度的增加而逐漸降低。因此，在高原或飛機(jī)等高海拔環(huán)境貯存、工作的設(shè)備，會(huì)暴露在低氣壓環(huán)境，對(duì)于飛機(jī)上的設(shè)備，還可能暴露在快速減壓或爆炸減壓的環(huán)境。低氣壓環(huán)境帶來(lái)諸多物理、化學(xué)效應(yīng)，如密封墊密封的殼體漏氣、漏液，密封容器變形、破損或破裂，低密度材料的物理和化學(xué)性能發(fā)生變化，熱傳導(dǎo)降低，潤(rùn)滑劑蒸發(fā)，發(fā)動(dòng)機(jī)的啟動(dòng)和工作不穩(wěn)定，真空密封失效。同時(shí)也可能導(dǎo)致電弧或電暈放電造成裝備失靈或工作不穩(wěn)定等問(wèn)題。因此，對(duì)于壽命期內(nèi)將暴露于低氣壓環(huán)境的裝備（產(chǎn)品），需要開(kāi)展低氣壓試驗(yàn)，從而確定元件、材料、設(shè)備等在低氣壓條件或氣壓快速變化條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性、耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力。

我們的優(yōu)勢(shì)

1、廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)專(zhuān)業(yè)的第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，可提供一站式服務(wù)；

2、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性檢測(cè)中心在全國(guó)建立了18個(gè)實(shí)驗(yàn)室，擁有專(zhuān)業(yè)的多學(xué)科專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)和先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備；

3、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性實(shí)驗(yàn)室具備CMA、CNAS等資質(zhì)，實(shí)行全國(guó)一體化管控模式，積極參加各類(lèi)能力驗(yàn)證項(xiàng)目，確保檢測(cè)結(jié)果公正準(zhǔn)確、可追溯；

3、廣電計(jì)量在低氣壓試驗(yàn)方面有十?dāng)?shù)年積累，具有業(yè)內(nèi)水平的試驗(yàn)設(shè)備和專(zhuān)業(yè)人才團(tuán)隊(duì)。

設(shè)備介紹

低氣壓試驗(yàn)箱

壓力范圍：常壓～0.5 kPa；

降壓速率：75.2kPa→4.4kPa ＜15s；常壓→1.0kPa≤30min；

壓力偏差：常壓~40kPa: ≤±2kPa；40kPa~4kPa: ≤±5%；4kPa~1kpa: ≤±0.1kPa

常見(jiàn)問(wèn)題

Q：什么樣的產(chǎn)品需要進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)？

A：對(duì)于可能在高海拔區(qū)域貯存或使用的裝備或者產(chǎn)品，在飛機(jī)增壓艙或非增壓艙中運(yùn)輸或工作的裝備、暴露于快速減壓或爆炸減壓環(huán)境中的裝備、在飛機(jī)外部掛飛的裝備一般都需要開(kāi)展低氣壓試驗(yàn)。